В работе исследуется зависимость смещения иглы туннельного микроскопа от наклона его оси. Эта зависимость должны учитываться на этапе проектирования и в процессе интерпретации измерений. Проведенные эксперименты подтверждают правильность выбранной модели для объяснения зависимости.

сканирующий зондовый туннельный микроскоп, чувствительность к возмущениям

Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники