Рассмотрены столкновения, которые испытывают фотоны и электроны с энергиями 100 эВ – 1 ГэВ при переносе в веществе: фотопоглощение, комптоновское и когерентное рассеяние фотонов, образование ими электронно-позитронных пар; упругое рассеяние электронов, ударная ионизация, тормозное излучение и возбуждение атомов среды. Представлен метод единого представления данных о сечениях в виде таблиц вероятностных распределений, аргументом которых является равномерно распределенная от нуля до единицы случайная величина. Таблицы используются математическими моделями переноса излучения для моделирования поглощения и рассеяния фотонов и электронов.

сечение, фотон, электрон, столкновение, рассеяние, энергия, импульс, случайная величина, распределение, вероятность

Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники

Жуковский Михаил Евгеньевич,  ,  orcid.org/0000-0001-5886-3026,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН

Марков Михаил Борисович,  ,  orcid.org/0000-0002-3428-9688,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН

Подоляко Сергей Викторович,  ,  orcid.org/0000-0002-7792-7117,  ИПМ им. М.В. Келдыша РАН