Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем

Попков К. А.

Аннотация:

Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов: 1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем; 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.

Ключевые слова:

схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем

Язык публикации: русский, страниц: 12

Направление исследований:

Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники

Полный текст на русском языке:

Список цитирующих публикаций:

Экспорт ссылки на публикацию в формате:

Статистика просмотров (обновляется раз в сутки):
за последние 30 дней — 10 (+8), всего с 01.09.2019 — 262

Сведения об авторах:

Попков Кирилл Андреевич, , ,

	Библиотеки, издания • Поиск публикаций	English
	Публикация