Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов

Попков К. А.

Аннотация:

Получены нетривиальные нижние оценки длин минимальных единичных проверяющих и диагностических тестов для схем из функциональных элементов в широких классах базисов при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.

Ключевые слова:

схема из функциональных элементов, неисправность, единичный проверяющий тест, единичный диагностический тест

Язык публикации: русский, страниц: 20

Направление исследований:

Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники

Полный текст на русском языке:

Список цитирующих публикаций:

Экспорт ссылки на публикацию в формате:

Статистика просмотров (обновляется раз в сутки):
за последние 30 дней — 6 (+4), всего с 01.09.2019 — 280

Сведения об авторах:

Попков Кирилл Андреевич, , ,

	Библиотеки, издания • Поиск публикаций	English
	Публикация