Эффект уширения спектральных линий под воздействием ионного микрополя (эффект Штарка) может оказаться важным при расчете коэффициентов поглощения фотонов в плотной высокотемпературной плазме. В работе рассмотрена и реализована методика учета эффекта Штарка в квазистатическом приближении основанная на диагонализации возмущенного ионным микрополем гамильтониана иона. Распределение ионного микрополя получено с использованием модели возмущающих независимых частиц. Методика рассчитана на применение как для легких элементов, так и для элементов с большим Z. Расчеты основаны на релятивистской модели Хартри-Фока-Слэтера и проводились с помощью программы THERMOS, разработанной в ИПМ им. М.В.Келдыша. Проведено сравнение полученных профилей линий, спектральных и средних коэффициентов поглощения фотонов с результатами Г.Грима для водорода и c результатами расчетов для различных веществ по другим широко известным программам.

Математическое моделирование в актуальных проблемах науки и техники