Материал конференции: "XIV международный научный семинар "Дискретная математика и ее приложения" имени академика О.Б. Лупанова (20-25 июня 2022 г., Москва)"
Авторы:Альбек М.К., Романов Д.С.
О диагностических тестах относительно локальных зеркальных отражений входов схем
Аннотация:
Под одиночным локальным зеркальным отражением входов схемы понимается неисправность, заключающаяся в том, что в пределах некоторого отрезка подряд идущих входов схемы порядок следования входов схемы меняется на противоположный. При кратных локальных зеркальных отражениях входов схемы источником неисправностей выбирается произвольное количество попарно непересекающихся отрезков подряд идущих входов схемы, в каждом из которых порядок следования входов схемы меняется на противоположный. В работе установлен порядок роста функции Шеннона длины единичного диагностического теста относительно локальных зеркальных отражений входов схем, а также получены нетривиальные оценки функции Шеннона длины полного диагностического теста относительно локальных зеркальных отражений входов схем.
Ключевые слова:
схемы из функциональных элементов, диагностические тесты
