English
М.К. Альбек, Д.С. Романов
О диагностических тестах относительно локальных зеркальных отражений входов схем
Материал конференции: "XIV международный научный семинар "Дискретная математика и ее приложения" имени академика О.Б. Лупанова (20-25 июня 2022 г., Москва)". Страниц: 4 (с.56-59). Язык: русский
Ссылки на публикацию DOI: 10.20948/dms-2022-8 в Crossref не найдены