English
К. А. Попков
Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
Препринты ИПМ им. М.В.Келдыша. 2016. № 60. Страниц: 12. Язык: русский
Цитирований в Crossref: 2
Article
K.A. Popkov
Complete fault detection tests of the length two for logic networks under stuck-at faults of gates
Издание: Keldysh Institute Preprints, 2017, Issue 104, Page 1
Цитирований: 2
Article
K.A. Popkov
Short single tests for logic networks under arbitrary stuck-at faults at outputs of gates
Издание: Keldysh Institute Preprints, 2018, Issue 33, Page 1
Цитирований: 1