English
К. А. Попков
Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов
Препринты ИПМ им. М.В.Келдыша. 2016. № 139. Страниц: 20. Язык: русский
Цитирований в Crossref: 2
Article
K.A. Popkov
Short single tests for logic networks under arbitrary stuck-at faults at outputs of gates
Издание: Keldysh Institute Preprints, 2018, Issue 33, Page 1
Цитирований: 1
Article
K.A. Popkov
A method of construction of easily diagnosable logic networks regarding single faults
Издание: Keldysh Institute Preprints, 2019, Issue 81, Page 1
Цитирований: 1